掃查面盲區(qū)高度測(cè)定試塊無(wú)損檢測(cè)超聲波試塊

一、該類試塊依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測(cè)定試塊的要求而設(shè)計(jì).適用于測(cè)定初始掃查面的盲區(qū)高度.該類試塊依據(jù)掃查面盲區(qū)高度測(cè)定試塊的要求而設(shè)計(jì).適用于測(cè)定初始掃查面的盲區(qū)高度.

二、NB/T 47013.10-2015標(biāo)準(zhǔn)《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第10部分：衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)》中提出了對(duì)盲區(qū)的控制要求，并規(guī)定了采用掃查面盲區(qū)試塊。華電鄭州機(jī)械設(shè)計(jì)研究院有限公司/鄭州國(guó)電機(jī)械設(shè)計(jì)研究所有限公司的檢測(cè)人員提出了一種新型的TOFD技術(shù)掃查面盲區(qū)對(duì)比試塊，該試塊可為制定檢測(cè)工藝時(shí)確定掃查面盲區(qū)提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支撐。下面就讓我們來(lái)詳細(xì)了解一下吧。

TOFD技術(shù)的掃查面盲區(qū)特征

TOFD檢測(cè)技術(shù)采用探頭對(duì)一發(fā)一收的放置方法來(lái)控制發(fā)射短脈沖，通過(guò)計(jì)算遇到缺陷轉(zhuǎn)變的衍射信號(hào)到達(dá)時(shí)間來(lái)分析缺陷的位置及大小。受信號(hào)脈沖寬度的限制，近表面缺陷的端點(diǎn)衍射波與直通波發(fā)生重疊，形成掃查面盲區(qū)，導(dǎo)致缺陷定位困難。盲區(qū)深度為d，聲速為c，探頭中心距為2S，直通波的傳輸時(shí)間TL=2S/c，直通波脈沖時(shí)間寬度Tp可從振幅的10%處截取得到，一般情況下取直通波兩倍周期，則盲區(qū)的深度d可按下式算出：

目前，通過(guò)優(yōu)化檢測(cè)參數(shù)(減小探頭中心距、提高探頭頻率等)來(lái)控制掃查面盲區(qū)，但上述參數(shù)無(wú)論怎樣調(diào)節(jié)都無(wú)法使盲區(qū)減小到可忽略的程度。由于掃查面盲區(qū)較大，實(shí)際檢測(cè)時(shí)需要采取其他有效措施解決掃查面盲區(qū)內(nèi)缺陷漏檢的問(wèn)題。

三、掃查面盲區(qū)對(duì)比試塊

NB/T 47013.10-2015標(biāo)準(zhǔn)要求使用掃查面盲區(qū)高度測(cè)定試塊來(lái)確定初始掃查面盲區(qū)的高度。

該試塊上有距離掃查面不同深度、不同長(zhǎng)度的8個(gè)Φ2mm橫孔，從標(biāo)準(zhǔn)中可以看出對(duì)試塊加工工藝有很高的要求，這些橫孔孔徑較小且長(zhǎng)度較長(zhǎng)。

四、新型TOFD掃查面盲區(qū)對(duì)比試塊

設(shè)計(jì)的新型TOFD掃查面盲區(qū)對(duì)比試塊采用深度連續(xù)變化的矩形槽(見(jiàn)圖1)。該試塊所用材料需經(jīng)過(guò)MT(磁粉檢測(cè))、UT(超聲檢測(cè))、PAUT(相控陣超聲檢測(cè))等方法嚴(yán)格檢測(cè)，試塊聲束通過(guò)區(qū)不得有大于等于Φ2mm的平底孔當(dāng)量的缺陷存在。試塊采用電火花數(shù)控線切割機(jī)床加工而成，加工工藝簡(jiǎn)單，成本較低，數(shù)控加工精度可控，可以滿足現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)對(duì)比驗(yàn)證的需要。有條件的情況下，可以在試塊上表面刻上長(zhǎng)度，并計(jì)算出對(duì)應(yīng)長(zhǎng)度位置處盲區(qū)的高度。

掃查面盲區(qū)高度測(cè)定試塊無(wú)損檢測(cè)超聲波試塊