磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片

簡(jiǎn)要描述：產(chǎn)品型號(hào)和價(jià)格
A1型 75
C型 75
D型 75
M1型 75
CX4-430 230
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片

產(chǎn)品型號(hào)：A1型/C型/D型/M1型
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2025-09-17
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詳情介紹

　　磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片

　　一、A1型簡(jiǎn)介：

　　A1型靈敏度試片先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。

　　二、特點(diǎn)：試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其*的優(yōu)點(diǎn)。

　　三、性能規(guī)格：A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1 (15/50μ)標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為(8-9)D；適用于中靈敏度探傷，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為(微米)，D為工件直徑。

　　四、本套試片包括：

　　1# 15/100μ

　　2# 30/100μ

　　3# 60/100μ

　　4# 7/50μ

　　5# 15/50μ

　　6# 30/50μ

　　共六片不同規(guī)格的試片組成

　　五、使用方法：

　　1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。

　　2、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流)。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。

　　注意事項(xiàng)：